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更新时间：2025-08-21
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开尔文探针系统 Kelvin Probe，研究样品的电表面状态，专用于测量半导体样品表面的电子功函数。 电化学开尔文探针系统专为直接测量与电解质接触的电化学样品设计，无需干燥样品表面，配备专用样品池，确保精准测量功函数，广泛应用于电池、光电材料和催化剂研究。
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开尔文探针系统 Kelvin Probe，研究样品的电表面状态，专用于测量半导体样品表面的电子功函数。单点开尔文探系统，用于研究功函数，能够精准测量样品表面特定位置的接触电位差（CPD）。
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