分光荧光仪专为电化学样品荧光研究设计，适用于固态和液态样品的激发和发射光谱测量。搭载氙灯光源与双单色仪，精确控制入射光强度和荧光发射。系统支持总荧光强度测量，光谱范围可扩展至1800nm，广泛应用于电...

完整型开尔文探针系统突破150年瓶颈，解决接触电位差（CPD）来源模糊问题，精准分离样品与探针电位。金网探针、法拉第笼助力高精度表面分析，重塑材料研究标准。

开尔文探针系统 Kelvin Probe，研究样品的电表面状态，专用于测量半导体样品表面的电子功函数。 电化学开尔文探针系统专为直接测量与电解质接触的电化学样品设计，无需干燥样品表面，配备专用样品池，...

开尔文探针系统 Kelvin Probe，研究样品的电表面状态，专用于测量半导体样品表面的电子功函数。扫描开尔文探针系统可测量单点接触电位差（CPD）并扫描整个样品表面，分析表面状态，评估表面缺陷和表...

开尔文探针系统 Kelvin Probe，研究样品的电表面状态，专用于测量半导体样品表面的电子功函数。单点开尔文探系统，用于研究功函数，能够精准测量样品表面特定位置的接触电位差（CPD）。

Mision 1100 扫描电化学显微镜，集成高精度压电马达定位平台与回转式扫描结构，兼具高分辨率与宽量程移动能力。系统支持SECM、AC-SECM、SIET等多种探针模块，并可与荧光显微镜、QCM等...

阻抗分析仪是一款突破传统的电化学阻抗测试仪器，具备全频段同步采集与时间分辨功能，可实时观测样品阻抗随时间演化，特别适用于锂电池、电化学传感器、光电材料等动态系统研究。相比传统逐频扫描方式，阻抗相机可在...

时间分辨荧光光谱仪 FPC-TDC 采用第一次光子计数法，特别适用于低荧光产率样品的研究。系统通过激光脉冲激发样品，测量荧光光子到达光电倍增管的飞行时间，从而重建荧光衰减曲线。支持发射型荧光光谱、电流...

瞬态吸收光谱仪，专用于研究材料在激光激发下的量子态跃迁与退激过程。通过测量液体样品对白光的吸收变化或固态样品的反射信号，揭示其从激发态回到基态的动态行为。系统可实现激光诱导荧光与磷光分析，并支持电化学...

量子效率测量系统专为太阳能电池及光电材料表征设计。配备单色仪、氙灯、卤素灯与AM1.5G模拟光源，可覆盖从紫外（UV）、可见光（VIS）到红外（IR）的波长范围，支持EQE、IQE、反射、透射、I-V...